蔡康原位拉伸臺(tái)（Caikon In-situ Tensile Stage）是一種用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物學(xué)等領(lǐng)域的高精度實(shí)驗(yàn)裝置，能夠在材料保持原始位置或狀態(tài)下施加可控的拉伸、壓縮或剪切力，同時(shí)結(jié)合顯微成像（如SEM、TEM、AFM等）或光譜技術(shù)，實(shí)時(shí)觀察材料在力學(xué)作用下的微觀結(jié)構(gòu)演變或性能變化。原位拉伸試樣臺(tái)也可使用測(cè)定材料力學(xué)參數(shù)；同時(shí)由于結(jié)構(gòu)緊湊微小、充分考慮了真空兼容性和電磁兼容性，因此可實(shí)現(xiàn)與金相顯微鏡、掃描電鏡、拉曼光譜儀、X射線衍射儀、原子力顯微鏡等顯微成像設(shè)備的兼容，所采用的超低速準(zhǔn)靜態(tài)加載方式有利于在成像儀器下對(duì)載荷作用下材料細(xì)微的變形損傷變化狀況進(jìn)行連續(xù)的可視化原位監(jiān)測(cè)，便于系統(tǒng)深入的研究揭示載荷作用、材料變形損傷機(jī)制與微觀結(jié)構(gòu)變化間的規(guī)律。

常見(jiàn)設(shè)備類型：

（1）Caikon (蔡康）SEM原位拉伸臺(tái)

在掃描電鏡內(nèi)實(shí)現(xiàn)拉伸測(cè)試，分辨率達(dá)納米級(jí)（如Deben、Hysitron等品牌）。

（2）Caikon (蔡康）TEM原位拉伸臺(tái)

用于透射電鏡下的原子尺度變形研究（需超薄樣品）。

（3）Caikon (蔡康）光學(xué)顯微鏡原位臺(tái)

結(jié)合數(shù)字圖像相關(guān)（DIC）技術(shù)，低成本方案。

（4）Caikon (蔡康）多功能原位臺(tái)

集成拉伸、壓縮、彎曲等多種模式，適配不同儀器（如AFM、FIB）。

    蔡康（Caikon)拉伸試驗(yàn)臺(tái)是通用的，能夠在各種材料上進(jìn)行各種機(jī)械測(cè)試。在靜態(tài)或動(dòng)態(tài)條件下觀察材料表面納米級(jí)微觀形態(tài)和結(jié)構(gòu)變化。通過(guò)實(shí)時(shí)獲取的載荷，形變和溫度等數(shù)據(jù)，并結(jié)合掃描電子顯微鏡提供的材料微觀結(jié)構(gòu)分析數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)了定量分析材料微觀力學(xué)性質(zhì)，相變行為，取向變化，裂紋萌生和擴(kuò)展，材料疲勞和斷裂機(jī)制，材料彎曲機(jī)制，高溫蠕變性，分層，形成滑移面以及脫落等現(xiàn)象。

- 復(fù)合材料，聚合物材料

- 電鍍層，釬焊或焊接接頭

- 金屬材料，陶瓷材料

- 礦物，木材

- 半導(dǎo)體器件，薄膜

- 硬質(zhì)涂層，電鍍層 

- 玻璃，塊體材料

- 各種有機(jī)材料

選型建議：

（1）明確測(cè)試需求（樣品類型、力學(xué)范圍、環(huán)境條件）。

（2）匹配顯微成像設(shè)備的接口和空間限制。

（3）考慮供應(yīng)商的技術(shù)支持與軟件分析功能（如應(yīng)變場(chǎng)計(jì)算、斷裂韌性評(píng)估）。

    如果需要具體型號(hào)推薦或?qū)嶒?yàn)設(shè)計(jì)指導(dǎo)，可進(jìn)一步說(shuō)明應(yīng)用背景！